時(shí)間:2019年10月17日 分類:新聞中心 次數(shù):
集成電路應(yīng)用是比較廣泛的,很多電力工作者也會(huì)發(fā)表集成電路可靠性方向的論文,但是自己在投稿時(shí)也會(huì)心中忐忑,難以找到合適的刊物。其實(shí)集成電路方向的論文可投稿刊物也是很多的,只是缺乏經(jīng)驗(yàn)的作者并不好發(fā),為此小編推薦了幾本好投稿的電路期刊,增加大家投稿的信心。
《電子測(cè)試》由北京市科學(xué)技術(shù)研究院主管,1983年創(chuàng)刊,雜志提供產(chǎn)品測(cè)試解決方案,開發(fā)與質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、研究所和大專院校必備的參考資料,適合電子技術(shù)論文發(fā)表。近期接受的集成電路可靠性論文有: GH3183模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介,半導(dǎo)體集成電路可靠性測(cè)試及數(shù)據(jù)處理方法,集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用研究,集成電路直流參數(shù)測(cè)試測(cè)量審核結(jié)果及不確定度評(píng)定等。
《集成電路應(yīng)用》創(chuàng)辦于1984年,是由中國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)集團(tuán)有限公司主管、上海貝嶺股份有限公司主辦的電子科學(xué)學(xué)術(shù)雜志。征稿對(duì)象為:集成電路專業(yè)學(xué)者,專業(yè)研究人員,工程技術(shù)人員和院校師生。錄用的相關(guān)論文有:靜電釋放ESD技術(shù)在集成電路防護(hù)中的應(yīng)用,集成電路測(cè)試業(yè)發(fā)展模式的探索與實(shí)踐,集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢(shì)研究等。
中國(guó)集成電路(月刊)創(chuàng)刊于1992年,是由中國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部主管,中國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)/集成電路設(shè)計(jì)分會(huì)主辦的全國(guó)性專業(yè)電子刊物。本刊物主要征收涉及半導(dǎo)體微電子科學(xué)與技術(shù)及其應(yīng)用的各個(gè)領(lǐng)域,包括微電子器件與電路的基礎(chǔ)及其設(shè)計(jì)技術(shù)、電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化、工藝技術(shù)、設(shè)備材料、封裝技術(shù)、產(chǎn)業(yè)發(fā)展、應(yīng)用技術(shù)及市場(chǎng)等論文。
以上小編推薦的都是集成電路可靠性研究論文好投的刊物,影響因子也是比較高的,單位認(rèn)可度也很高,想要發(fā)表論文的作者可以作為目標(biāo)期刊,或者是將您的實(shí)際情況與該站老師交流,給您安排到更為合適的刊物上。
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